爲了(le)提升手(shou)機産品(pin)可靠性(xing)能力,各(ge)個企業(ye)投入了(le)巨大的(de)☔努力🚶,從(cong)産品設(she)計開發(fa)到生産(chan)各個環(huan)節,都在(zai)緻力于(yu)提高🐅産(chan)品可靠(kao)性。
了解了(le)産品的(de)一般結(jie)構之後(hou),在開始(shi)結構設(she)計之前(qian)😍,需要清(qing)楚地知(zhi)道産品(pin)要達到(dao)上市的(de)要求需(xu)要通過(guo)哪些測(ce)試✔️,達到(dao)🈲什麽樣(yang)的标準(zhun)。
産(chan)品可靠(kao)性測試(shi) (PRT) 的(de)目的是(shi)在特定(ding)的可接(jie)受的環(huan)境下不(bu)斷的催(cui)化産品(pin)的❄️壽👄命(ming)和疲勞(lao)度,可以(yi)在早期(qi)預測和(he)評估産(chan)品的質(zhi)量和可(ke)靠性。産(chan)品結構(gou)設計工(gong)程師必(bi)須通曉(xiao)可靠🌈性(xing)測試㊙️的(de)所有标(biao)準,在設(she)計階段(duan)就必須(xu)采取正(zheng)确的設(she)計和選(xuan)擇合适(shi)的材料(liao)來避免(mian)後續産(chan)品的質(zhi)量和💔可(ke) 靠(kao)性問題(ti)。産品必(bi)須經過(guo)國家的(de)可靠性(xing)測試,而(er)且👨❤️👨越來(lai)越嚴🚶♀️格(ge)☁️,要求也(ye)越來越(yue)高,這就(jiu)對我們(men)的設計(ji)提出了(le)更高的(de)要求。
首先(xian)了解一(yi)下可靠(kao)性影響(xiang)因素 , 影響(xiang)産品可(ke)靠性的(de)極其重(zhong)要的因(yin)素是環(huan)境。
環境因(yin)素多種(zhong)多樣:溫(wen)度、濕度(du)、壓力、輻(fu)射、降雨(yu)、風、雷、電(dian)、鹽霧、砂(sha)塵、振動(dong)、沖擊、噪(zao)聲、電磁(ci)輻射等(deng),都不可(ke)避免地(di)對電子(zi)産品産(chan)生不良(liang)影響。有(you)資料顯(xian)示,電子(zi)産品故(gu)障的 52% 失效(xiao)是由環(huan)境效應(ying)引起:其(qi)中由溫(wen)度引起(qi)的占 40% ,由振(zhen)動引起(qi)的占 27% ,由濕(shi)度引起(qi)的占 19% ,其餘(yu) 14% 是(shi)砂塵、鹽(yan)霧等因(yin)素引發(fa)的故障(zhang)。環境試(shi)驗作爲(wei)可靠性(xing)試驗的(de)一種類(lei)型已經(jing)發展成(cheng)爲一種(zhong)預測産(chan)品使用(yong)環🏒境是(shi)如何影(ying)響💋産品(pin)的性能(neng)和功能(neng)的方🐕法(fa)。
在(zai)手機投(tou)入市場(chang)之前,環(huan)境試驗(yan)被用來(lai)評估環(huan)境影響(xiang)手😄機的(de)程度,當(dang)手機的(de)功能受(shou)到了影(ying)響,環境(jing)試驗被(bei)用來查(cha)明原因(yin),并采取(qu)措施保(bao)護手機(ji)免受環(huan)境影響(xiang)以保護(hu)手機的(de)可靠💔性(xing),環境試(shi)驗也被(bei)用來分(fen)析手機(ji)在實際(ji)使用過(guo)程🔴中出(chu)現的缺(que)陷以及(ji)新産品(pin)的改進(jin)。
嚴格(ge)意義上(shang)講,隻有(you)通過了(le)環境适(shi)應性試(shi)驗,滿足(zu)規定💋的(de)條件,才(cai)能進行(hang)可靠性(xing)試驗,環(huan)境适應(ying)性試驗(yan)對于保(bao)證手機(ji)的可靠(kao)性是非(fei)常有效(xiao)的。 手機環(huan)境與可(ke)靠性測(ce)試包括(kuo)六個部(bu)分:加速(su)壽命測(ce)🚩試、氣候(hou)🏃🏻♂️适應測(ce)試、結構(gou)耐久測(ce)試、表面(mian)裝飾測(ce)試、特殊(shu)條件測(ce)試🚩,及其(qi)他條🈲件(jian)測試。
1.1.
加速(su)壽命測(ce)試
ALT (AcceleratedLife Test)
樣機标(biao)準數量(liang):
PR1
:
8
台
PR2
:
10
台
PR3
:
10
台(tai)
PIR
:
10
台
試驗(yan)周期:
11-27
天
測試(shi)目的:
通過(guo)連續的(de)施加各(ge)種測試(shi)條件,加(jia)速産品(pin)的失效(xiao),提🍉前暴(bao)✔️露潛在(zai)問題。
試驗(yan)流程:
其中(zhong)
Thermal Shock
和(he)
1st Drop
測(ce)試的時(shi)間間隔(ge)應不超(chao)過
4
小時
;Temp/Humidity
和
2nd Drop
測試(shi)的時間(jian)間隔應(ying)不超過(guo)
4
小(xiao)時。每項(xiang)測試完(wan)成都應(ying)進行表(biao)面,外觀(guan),結構和(he)功能檢(jian)查。
測試标(biao)準:參數(shu)指标正(zheng)常,功能(neng)正常。
1.1.1
室溫(wen)下參數(shu)測試
(ParametricTest)
測試(shi)環境:室(shi)溫
(20~25
°
C);
測(ce)試目的(de):
測(ce)試預檢(jian)查
測試方(fang)法:使用(yong)
8960/8922
測(ce)試儀,對(dui)所有樣(yang)品進行(hang)參數指(zhi)标預測(ce)試并保(bao)存測試(shi)結果。
測試(shi)标準:參(can)數指标(biao)正常,功(gong)能正常(chang)。
1.1.2
溫(wen)度沖擊(ji)測試
(Thermal Shock)
測試(shi)環境:低(di)溫箱:
-30
°
C ;
高溫箱(xiang):
+10
°
C
測試(shi)目的:通(tong)過高低(di)溫沖擊(ji)進行樣(yang)品應力(li)篩選
試驗(yan)方法:使(shi)用高低(di)溫沖擊(ji)箱,手機(ji)帶電池(chi),設置成(cheng)關機❓狀(zhuang)态先放(fang)置于高(gao)溫箱内(nei)持續
45
分鍾(zhong)後,在
15
秒内(nei)迅速移(yi)入低溫(wen)箱并持(chi)續
45
分鍾後(hou),再
15
秒内迅(xun)速回到(dao)高溫箱(xiang)。此爲一(yi)個循環(huan),共循環(huan)
21
次(ci)。實驗結(jie)束後将(jiang)樣機從(cong)溫度沖(chong)擊箱
(
高溫(wen)箱
)
中取出(chu),恢複
2
小時(shi)後進行(hang)外
觀、機械(xie)和電性(xing)能檢查(cha)。對于翻(fan)蓋手機(ji),應将一(yi)半樣品(pin)打開翻(fan)蓋
;
對于滑(hua)蓋手機(ji),應将一(yi)半樣品(pin)滑開到(dao)上限位(wei)置。
試驗标(biao)準:手機(ji)表面噴(pen)塗無異(yi)變,結構(gou)無異常(chang),功能正(zheng)常,可正(zheng)常撥打(da)電話。
1.1.3
跌落(luo)試驗
(Drop Test)
測試(shi)條件:
1.5m
高度(du),
20mm
厚(hou)大理石(shi)地闆。
(
對于(yu)
PDA
手(shou)機
,
根據所(suo)屬公司(si)質量部(bu)門的建(jian)議可調(diao)整爲跌(die)落高👉度(du)爲
1.3m)
測試目(mu)的:
跌落沖(chong)擊試驗(yan)
試(shi)驗方法(fa):将手機(ji)處于開(kai)機狀态(tai)進行跌(die)落。對于(yu)直握手(shou)機,進行(hang)🌈
6
個(ge)面的自(zi)由跌落(luo)實驗,每(mei)個面的(de)跌落次(ci)數爲
1
次,每(mei)個面跌(die)落之後(hou)進行外(wai)觀、結構(gou)和功能(neng)檢查。對(dui)💋于翻蓋(gai)手機,進(jin)行
8
個面的(de)自由跌(die)落實驗(yan)
;
其(qi)中一半(ban)樣品合(he)上翻蓋(gai)按直握(wo)手機的(de)方法進(jin)行跌落(luo),另一📐半(ban)樣
品在跌(die)正面和(he)背面時(shi)須打開(kai)翻蓋
;
對于(yu)滑蓋手(shou)機,應将(jiang)一半樣(yang)品滑開(kai)到上限(xian)位置。跌(die)落結束(shu)後對外(wai)觀、結構(gou)和功能(neng)進行檢(jian)查。
試驗标(biao)準:手機(ji)外觀,結(jie)構和功(gong)能符合(he)要求。
1.1.4
振動(dong)試驗
(Vibration Test)
測試(shi)條件:振(zhen)幅:
0.38mm/
振頻:
10~30Hz;
振幅(fu):
0.19mm/
振(zhen)頻:
30~55Hz;
測試目(mu)的:
測試樣(yang)機抗振(zhen)性能
試驗(yan)方法:将(jiang)手機開(kai)機放入(ru)振動箱(xiang)内固定(ding)夾緊。啓(qi)動振動(dong)台按
X
、
Y
、
Z
三(san)個軸向(xiang)分别振(zhen)動
1
個小時(shi),每個軸(zhou)振完之(zhi)後取出(chu)進行外(wai)觀、結構(gou)和功能(neng)檢查💔。三(san)個軸向(xiang)振動試(shi)驗結束(shu)後,對樣(yang)機進行(hang)參❄️數測(ce)試。
試驗标(biao)準:振動(dong)後手機(ji)内存和(he)設置沒(mei)有丢失(shi)現象,手(shou)🌈機外🍓觀(guan),結構和(he)功能符(fu)合要求(qiu),參數測(ce)試正常(chang),晃動無(wu)🌈異響。
1.1.5
濕熱(re)試驗
(Humidity Test)
測試(shi)環境:
60
°
C
,
95%RH
測(ce)試目的(de):
測(ce)試樣機(ji)耐高溫(wen)高濕性(xing)能
試驗方(fang)法:将手(shou)機處于(yu)關機狀(zhuang)态,放入(ru)溫濕度(du)實驗箱(xiang)内的架(jia)子上,持(chi)續
60
個小時(shi)之後取(qu)出,常溫(wen)恢複
2
小時(shi),然後進(jin)行外觀(guan)、結構和(he)功能檢(jian)查。對于(yu)翻蓋手(shou)機,應将(jiang)一半樣(yang)品合上(shang)翻蓋,一(yi)半樣品(pin)打開翻(fan)蓋
;
對于滑(hua)蓋手機(ji),應将一(yi)半樣品(pin)滑開到(dao)上限位(wei)置。
試驗标(biao)準:手機(ji)外觀,結(jie)構和功(gong)能符合(he)要求。
1.1.6
靜電(dian)測試
(ESD)
測試(shi)條件:
+/-4kV~+/-8kV
。
測試目(mu)的:
測試樣(yang)機抗靜(jing)電幹擾(rao)性能
試驗(yan)方法:
将樣(yang)機設置(zhi)爲開機(ji)狀态,檢(jian)查樣機(ji)内存和(he)功能。
(
内存(cun)
10
條(tiao)短信息(xi)和
10
個電話(hua)号碼
;
使用(yong)功能正(zheng)常
)
。将樣機(ji)放于靜(jing)電測試(shi)台的絕(jue)緣墊上(shang),并且用(yong)充電器(qi)加㊙️電使(shi)手機處(chu)于充電(dian)狀态
(
樣機(ji)與絕緣(yuan)墊邊緣(yuan)距離至(zhi)少
2
英寸
;
兩個(ge)樣機之(zhi)間的距(ju)離也是(shi)至少
2
英寸(cun)
)
。
打開(kai)靜電模(mo)拟器,調(diao)節放電(dian)方式,分(fen)别選擇(ze)
+/-4kV(
接(jie)觸放電(dian)
)
,
~+/-8kV(
空氣(qi)放電
)
,對手(shou)機指定(ding)部位連(lian)續放電(dian)
10
次(ci),并對地(di)放電。每(mei)做完一(yi)個部位(wei)的測試(shi),檢查手(shou)機功能(neng)、信🐉号和(he)靈敏度(du),并觀察(cha)手機在(zai)測試過(guo)程中有(you)無死機(ji),通信鏈(lian)🧑🏽🤝🧑🏻路中斷(duan),
LCD
顯(xian)示異常(chang),自動關(guan)機
及其他(ta)異常現(xian)象。
樣機需(xu)在與
8922
測試(shi)儀建立(li)起呼叫(jiao)連接的(de)狀态下(xia)進行各(ge)個放電(dian)方式、級(ji)别和極(ji)性的測(ce)試。
試驗标(biao)準:在
+/-4Kv
和
+/-8Kv
時出(chu)現任何(he)問題都(dou)要被計(ji)爲故障(zhang)。
備(bei)注:靜電(dian)釋放位(wei)置的确(que)定要依(yi)據産品(pin)的具體(ti)情況進(jin)🚩行定義(yi)。
1.2.
氣(qi)候适應(ying)性測試(shi)
(ClimaticStress Test)
樣(yang)品标準(zhun)數量:一(yi)般氣候(hou)性測試(shi)
4
台(tai)
;
惡(e)劣氣候(hou)性測試(shi)
2
台(tai)。共
8
台。
測試周(zhou)期:
1
天。
測試目(mu)的:
模拟實(shi)際工作(zuo)環境對(dui)産品進(jin)行性能(neng)測試
一般(ban)氣候性(xing)測試
惡劣(lie)氣候性(xing)測試
A
:
一般氣(qi)候性測(ce)試:
1.2.1.
高溫
/
低溫(wen)參數測(ce)試
(ParametricTest)
測試環(huan)境:
-10
°
C /+55
°
C
測試(shi)目的:高(gao)溫
/
低溫應(ying)用性性(xing)能測試(shi)
試(shi)驗方法(fa):将手機(ji)電池充(chong)滿電,手(shou)機處于(yu)開機狀(zhuang)态,放入(ru)溫🤩度實(shi)驗箱内(nei)的架子(zi)上,調節(jie)溫度控(kong)制器到(dao)
-10
°
C /+55
°
C
。持續
2
個小(xiao)時之後(hou)在此環(huan)境下進(jin)行電性(xing)能參數(shu)和功能(neng)🐅檢查。對(dui)🚩于翻👈蓋(gai)手機,應(ying)将一半(ban)樣品合(he)上翻蓋(gai),一半樣(yang)品打開(kai)翻蓋
;
對于(yu)滑蓋手(shou)機,應将(jiang)一半樣(yang)品滑開(kai)到上限(xian)位置。
試驗(yan)标準:手(shou)機電性(xing)能參數(shu)指标滿(man)足要求(qiu),功能正(zheng)常,外殼(ke)無變形(xing)。
測(ce)試環境(jing):
+45
°
C
,
95%RH
測試目(mu)的:高溫(wen)高濕應(ying)用性性(xing)能測試(shi)
試(shi)驗方法(fa):将手機(ji)電池充(chong)滿電,手(shou)機處于(yu)開機狀(zhuang)态,放入(ru)溫度💜實(shi)驗箱内(nei)的架子(zi)上。持續(xu)
48
個(ge)小時之(zhi)後,然後(hou)在此環(huan)境下進(jin)行電性(xing)能檢查(cha),檢查♌項(xiang)目見🌏附(fu)🙇🏻表
1
。對于翻(fan)蓋手機(ji),應将一(yi)半樣品(pin)合上翻(fan)蓋,一半(ban)樣品打(da)開翻蓋(gai)
;
對(dui)于滑蓋(gai)手機,應(ying)将一半(ban)樣品滑(hua)開到上(shang)限位置(zhi)。
試(shi)驗标準(zhun):手機電(dian)性能指(zhi)标滿足(zu)要求,功(gong)能正常(chang),外殼無(wu)變🆚形。
1.2.3.
高溫(wen)
/
低(di)溫功能(neng)測試
(FunctionalTest)
測試(shi)環境:
-40
°
C /+10
°
C
測(ce)試目的(de):高溫
/
低溫(wen)應用性(xing)功能測(ce)試
試驗方(fang)法:将手(shou)機處于(yu)關機狀(zhuang)态,放入(ru)溫度實(shi)驗箱内(nei)的架子(zi)上。持續(xu)
24
個(ge)小時之(zhi)後,取出(chu),并放置(zhi)
2
小(xiao)時,恢複(fu)至常溫(wen),然後進(jin)行結構(gou),功能和(he)電性能(neng)檢查。對(dui)于翻蓋(gai)手機,應(ying)将一半(ban)樣品合(he)上翻蓋(gai),一半樣(yang)品打🙇♀️開(kai)翻蓋
;
對于(yu)滑蓋手(shou)機,應将(jiang)一半樣(yang)品滑開(kai)到上限(xian)位置。
試驗(yan)标準:手(shou)機電性(xing)能指标(biao)滿足要(yao)求,功能(neng)正常,外(wai)殼🌍無變(bian)形。
B
:惡劣氣(qi)候性測(ce)試
1.2.4.
灰塵測(ce)試
(Dust Test)
測試環(huan)境:室溫(wen)
測(ce)試目的(de):測試樣(yang)機結構(gou)密閉性(xing)
試(shi)驗方法(fa):将手機(ji)關機放(fang)入灰塵(chen)實驗箱(xiang)内。灰塵(chen)大小
300
目,持(chi)續
3
個小時(shi)之後,将(jiang)手機從(cong)實驗箱(xiang)中取出(chu),用棉布(bu)和離子(zi)風槍🌈清(qing)潔🔴後進(jin)行檢查(cha)。對于翻(fan)蓋手機(ji),應将一(yi)半👌樣品(pin)✂️合上翻(fan)蓋,一半(ban)樣品打(da)開翻蓋(gai)
;
對(dui)于滑蓋(gai)手機,應(ying)将一半(ban)樣品滑(hua)開到上(shang)限位置(zhi)。
試(shi)驗标準(zhun):手機各(ge)項功能(neng)正常,所(suo)有活動(dong)元器件(jian)運🏃轉🐉自(zi)🌍如,顯示(shi)區域沒(mei)有明顯(xian)灰塵。
1.2.5.
鹽霧(wu)測試
(Salt fog Test)
測試(shi)環境:
35
°
C
測試目(mu)的:測試(shi)樣機抗(kang)鹽霧腐(fu)蝕能力(li)
試(shi)驗方法(fa):
溶(rong)液含量(liang):
5%
的(de)氯化鈉(na)溶液。
将手(shou)機關機(ji)放在鹽(yan)霧試驗(yan)箱内,合(he)上翻蓋(gai),樣機用(yong)繩子懸(xuan)挂起來(lai),以免溶(rong)液噴灑(sa)不均或(huo)有的表(biao)面噴✏️不(bu)到。
樣機需(xu)要立即(ji)被放入(ru)測試箱(xiang)。實驗周(zhou)期是
48
個小(xiao)時。實驗(yan)過程中(zhong)樣機不(bu)得被中(zhong)途取出(chu),如果急(ji)需取出(chu)🚩測試,要(yao)嚴格記(ji)錄測試(shi)時間,該(gai)實驗需(xu)向後⭐延(yan)遲🔞相同(tong)時間🐇。
取出(chu)樣機後(hou),用棉布(bu)和離子(zi)風槍清(qing)潔,放置(zhi)
48
小(xiao)時進行(hang)常溫幹(gan)燥後,對(dui)其進行(hang)外觀、機(ji)械和電(dian)性🚶能檢(jian)✨查☂️。
試驗标(biao)準:手機(ji)各項功(gong)能正常(chang),外殼表(biao)面及裝(zhuang)飾件無(wu)明顯腐(fu)♋蝕⁉️等異(yi)常現象(xiang)。
1.3.
結(jie)構耐久(jiu)測試
(MechanicalEndurance Test)
樣品(pin)标準數(shu)量:
11
台。
測試周(zhou)期:
1
天。
測試流(liu)程:
測試标(biao)準:
1.3.1.
按鍵測(ce)試
(Keypad Test)
測試環(huan)境:室溫(wen)
(20~25
°
C);
測試(shi)目的:按(an)鍵壽命(ming)測試
測試(shi)數量:
2
台手(shou)機。
測試方(fang)法:将手(shou)機設置(zhi)成關機(ji)狀态固(gu)定在測(ce)試夾具(ju)上,導航(hang)鍵及其(qi)他任意(yi)鍵進行(hang)
10
萬(wan)次按壓(ya)按鍵測(ce)試。進行(hang)到
3
萬次、
5
萬次(ci)、
8
萬(wan)次、
10
萬次時(shi)各檢查(cha)手機按(an)鍵彈性(xing)及功能(neng)一次。實(shi)驗中被(bei)測試📐的(de)鍵🌂的選(xuan)擇根據(ju)不同機(ji)型進行(hang)确定并(bing)參考工(gong)程師的(de)建議,應(ying)盡量不(bu)重複,盡(jin)可能多(duo)。
試(shi)驗标準(zhun):手機按(an)鍵彈性(xing)及功能(neng)正常。
1.3.2.
側鍵(jian)測試
(Side Key Test)
測試(shi)環境:室(shi)溫
(20~25
°
C);
測(ce)試目的(de):側鍵壽(shou)命測試(shi)
測(ce)試數量(liang):
1
台(tai)手機
測試(shi)方法:将(jiang)手機設(she)置成關(guan)機狀态(tai)固定在(zai)測試夾(jia)🤟具‼️上,對(dui)側💯鍵進(jin)行
10
萬次按(an)壓按鍵(jian)測試。進(jin)行到
3
萬次(ci)、
5
萬(wan)次、
8
萬次、
10
萬次(ci)時各檢(jian)查手機(ji)按鍵彈(dan)性及功(gong)能一次(ci)。
試(shi)驗标準(zhun):手機按(an)鍵彈性(xing)及功能(neng)正常。
1.3.3.
翻蓋(gai)測試
(Flip Life Test)
測試(shi)環境:室(shi)溫
(20~25
°
C);
測(ce)試目的(de):翻蓋壽(shou)命測試(shi)
測(ce)試數量(liang):
4
台(tai)手機。
測試(shi)方法:将(jiang)手機設(she)置成開(kai)機狀态(tai),固定在(zai)測試夾(jia)具上,進(jin)行
5
萬次開(kai)合翻蓋(gai)測試。進(jin)行到
3
萬次(ci)、
4
萬(wan)次、
4. 5
萬次
、
5
萬次時(shi)進行手(shou)機翻蓋(gai)彈性及(ji)功能一(yi)次。
試驗标(biao)準:
5
萬次後(hou),手機外(wai)觀,結構(gou),及功能(neng)正常。
1.3.4.
滑蓋(gai)測試
(Slide LifeTest)
測試(shi)環境:室(shi)溫
(20~25
°
C);
測(ce)試目的(de):滑蓋壽(shou)命測試(shi)
測(ce)試數量(liang):
4
台(tai)手機。
測試(shi)方法:将(jiang)手機設(she)置成開(kai)機狀态(tai),固定在(zai)測試夾(jia)具🍉上,進(jin)行
5
萬次滑(hua)蓋測試(shi)。進行到(dao)
3
萬(wan)次、
4
萬次、
4. 5
萬次(ci)
、
5
萬次(ci)時進行(hang)手機滑(hua)蓋手感(gan)及功能(neng)一次。
試驗(yan)标準:
5
萬次(ci)後,手機(ji)外觀,結(jie)構,及功(gong)能正常(chang)
,
滑(hua)蓋不能(neng)有松動(dong)
(
建(jian)議
:
垂直手(shou)機時不(bu)能有自(zi)動下滑(hua)的現象(xiang)
)
1.3.5.
重(zhong)複跌落(luo)測試
(Micro-DropTest)
測試(shi)環境:室(shi)溫
(20~25
°
C);1cm
高(gao)度
,20mmPVC
闆
測試目(mu)的:樣機(ji)跌落疲(pi)勞測試(shi)
測(ce)試數量(liang):
2
台(tai)。
測(ce)試方法(fa):手機處(chu)于開機(ji)狀态,做(zuo)手機正(zheng)面及背(bei)面的重(zhong)複跌落(luo)⭐實驗,每(mei)個面的(de)跌落次(ci)數爲
20,000
次。進(jin)行到
1
萬次(ci)、
1.5
萬(wan)次、
1.8
萬次、
2
萬次(ci)時各檢(jian)查對手(shou)機進行(hang)外觀、機(ji)械和電(dian)性能的(de)中🚩間檢(jian)查。
測試标(biao)準:手機(ji)各項功(gong)能正常(chang),外殼無(wu)變形、破(po)裂、掉漆(qi),顯示屏(ping)無❌破碎(sui),晃動無(wu)異響。
1.3.6.
充電(dian)器插拔(ba)測試
(Charger Test)
測試(shi)環境:室(shi)溫
(20~25
°
C);
測(ce)試目的(de):充電器(qi)插拔
]
壽命(ming)測試
測試(shi)數量:
2
台手(shou)機。
試驗方(fang)法:将充(chong)電器接(jie)上電源(yuan),連接手(shou)機充電(dian)接口,等(deng)待🌈手機(ji)至充電(dian)界面顯(xian)示正常(chang)後,拔除(chu)充電插(cha)頭。在開(kai)機不🛀插(cha)卡📞狀态(tai)下插拔(ba)充電
3000
次。進(jin)行到
2000
次、
2500
次和(he)
3000
次(ci)時進行(hang)中間
/
結束(shu)檢查一(yi)次。
檢驗标(biao)準:
I/O
接口無(wu)損壞,焊(han)盤無脫(tuo)落,充電(dian)功能正(zheng)常。無異(yi)常手🎯感(gan)❤️。
1.3.7.
筆(bi)插拔測(ce)試
(Stylus Test)
測試環(huan)境:室溫(wen)
(20~25
°
C);
測試(shi)目的:手(shou)機手寫(xie)筆插拔(ba)壽命測(ce)試
測試數(shu)量:
2
台手機(ji)。
試(shi)驗方法(fa):将手機(ji)處于開(kai)機狀态(tai),筆插在(zai)手機筆(bi)插孔内(nei),然後拔(ba)出,反複(fu)
20
,
000
次。進(jin)行到
1
萬次(ci)、
1
萬(wan)
5
千(qian)次、
1
萬
8
千次、
2
萬次(ci)時檢查(cha)手機筆(bi)插入拔(ba)出結構(gou)功能、外(wai)殼及筆(bi)是否正(zheng)常。
檢驗标(biao)準:手機(ji)筆輸入(ru)功能正(zheng)常,插入(ru)拔出結(jie)構功能(neng)💋、外✌️殼♌及(ji)筆均正(zheng)常。
1.3.8
點擊試(shi)驗
(PointActivation Life Test)
試驗條(tiao)件:觸摸(mo)屏測試(shi)儀
(
接觸墊(nian)尖端半(ban)徑爲
3.15mm;
硬度(du)爲
40deg
的矽樹(shu)脂橡膠(jiao)
)
測(ce)試目的(de):觸摸屏(ping)點擊壽(shou)命測試(shi)
樣(yang)品數量(liang):
1
台(tai)
試(shi)驗方法(fa):将手機(ji)設置爲(wei)開機狀(zhuang)态,點擊(ji)
LCD
的(de)中心位(wei)置
250,000
次,點擊(ji)力度爲(wei)
250g;
點(dian)擊速度(du):
2
次(ci)
/
秒(miao)
;
檢(jian)驗标準(zhun):不應出(chu)現電性(xing)能不良(liang)現象
;
表面(mian)不應有(you)損傷
1.3.9
劃線(xian)試驗
(Lineation LifeTest)
試驗(yan)條件:觸(chu)摸屏測(ce)試儀,直(zhi)徑爲
0.8mm
的塑(su)料手寫(xie)筆或随(sui)機附帶(dai)的手寫(xie)筆
測試目(mu)的:觸摸(mo)屏劃線(xian)疲勞測(ce)試
樣品數(shu)量:
1
台
試驗方(fang)法:将手(shou)機設置(zhi)爲關機(ji)狀态,在(zai)同一位(wei)置劃線(xian)至少
100,000
次,力(li)度爲
250g;
滑行(hang)速度:
60mm/
秒
檢驗(yan)标準:不(bu)應出現(xian)電性能(neng)不良現(xian)象
;
表面不(bu)應有損(sun)傷
1.3.10.
電池
/
電池(chi)蓋拆裝(zhuang)測試
(Battery/BatteryCover Test)
測試(shi)環境:室(shi)溫
(20~25
°
C);
測(ce)試目的(de):電池
/
電池(chi)蓋拆裝(zhuang)壽命測(ce)試
測試數(shu)量:
2
台。
試驗方(fang)法:将電(dian)池
/
電池蓋(gai)反複拆(chai)裝
2000
次。進行(hang)到
1500
次、
1800
次和
2000
次時(shi)檢查手(shou)機及電(dian)池
/
電池蓋(gai)各項功(gong)能、及外(wai)觀是否(fou)正常。
檢驗(yan)标準:手(shou)機及電(dian)池卡扣(kou)功能正(zheng)常無變(bian)形,電池(chi)觸片、電(dian)池連🚩接(jie)器應無(wu)下陷、變(bian)形及磨(mo)損的現(xian)象,外觀(guan)無異常(chang)。
1.3.11. SIM Card
拆(chai)裝測試(shi)
(SIM Card Test)
測(ce)試環境(jing):室溫
(20~25
°
C);
測試目(mu)的:
SIM
卡拆裝(zhuang)壽命測(ce)試
測試數(shu)量:
2
台手機(ji)。
試(shi)驗方法(fa):插上
SIM
卡,然(ran)後取下(xia)
SIM
卡(ka),再重新(xin)裝上,反(fan)複
1000
次,每插(cha)拔
100
次檢查(cha)開機是(shi)否正常(chang),讀卡信(xin)息正常(chang)。
檢(jian)驗标準(zhun):
SIM
卡(ka)觸片、
SIM
卡推(tui)扭開關(guan)正常,手(shou)機讀卡(ka)功能使(shi)用正常(chang)。
1.3.12.
耳(er)機插拔(ba)測試
(Headset Test)
測試(shi)環境:室(shi)溫
(20~25
°
C);
測(ce)試目的(de):耳機插(cha)拔壽命(ming)測試
測試(shi)數量:
2
台手(shou)機。
試驗方(fang)法:将手(shou)機處于(yu)開機狀(zhuang)态,耳機(ji)插在耳(er)機插孔(kong)🐇内🍉,然後(hou)拔出,反(fan)複
3000
次。進行(hang)到
2000
、
2500
次(ci)和
3000
次時各(ge)檢查一(yi)次。
檢驗标(biao)準:實驗(yan)後檢查(cha)耳機插(cha)座無焊(han)接故障(zhang),耳機插(cha)頭無🍉損(sun)傷,使用(yong)耳機通(tong)話接收(shou)與送話(hua)無雜音(yin)
(
通(tong)話過程(cheng)中轉動(dong)耳機插(cha)頭
)
,耳機插(cha)入手機(ji)耳機插(cha)孔時不(bu)會松動(dong)
(
可(ke)以承受(shou)得住手(shou)機本身(shen)的重量(liang)
)
。
1.3.13.
導線(xian)連接強(qiang)度試驗(yan)
(Cable PullingEndurance Test--Draft)
測(ce)試環境(jing):室溫
(20~25
°
C);
測試目(mu)的:導線(xian)連接強(qiang)度測試(shi)
實(shi)驗方法(fa):選取靠(kao)近耳塞(sai)的一段(duan)導線,将(jiang)其兩端(duan)固定在(zai)實驗機(ji)上,用
10N
±
1N
的力度(du)持續拉(la)伸
6
秒,循環(huan)
100
次(ci)。
(
其(qi)它造型(xing)的導線(xian)可采納(na)工程師(shi)的建議(yi)來确定(ding)循環次(ci)數
)
檢驗标(biao)準:導線(xian)功能正(zheng)常。被覆(fu)外皮不(bu)破裂,變(bian)形。
1.3.14.
導線折(she)彎強度(du)試驗
(Cable BendingEndurance Test--Draft)
測試(shi)環境:室(shi)溫
(20~25
°
C);
測(ce)試目的(de):導線折(she)彎疲勞(lao)測試
實驗(yan)方法:分(fen)别選取(qu)靠近耳(er)塞和靠(kao)近插頭(tou)的一段(duan)導線,将(jiang)導線🐪的(de)兩端固(gu)定在實(shi)驗機上(shang),做
0mm~25mm
做折彎(wan)實驗
3000
次。
(
其它(ta)造型的(de)導線可(ke)采納工(gong)程師的(de)建議來(lai)确定循(xun)環次♋數(shu)
)
檢(jian)驗标準(zhun):導線功(gong)能正常(chang)被覆外(wai)皮不破(po)裂,變形(xing)。
1.3.15.
導(dao)線擺動(dong)疲勞試(shi)驗
(Cable SwingEndurance Test--Draft)
測試環(huan)境:室溫(wen)
(20~25
°
C);
測試(shi)目的:導(dao)線擺動(dong)疲勞測(ce)試
實驗方(fang)法
:
分别将(jiang)耳機和(he)插頭固(gu)定在實(shi)驗機上(shang),用
1N
的力,
以
180
°的角(jiao)度反複(fu)擺動耳(er)機末端(duan)
3000
次(ci)。
(
其(qi)它造型(xing)的導線(xian)可采納(na)工程師(shi)的建議(yi)來确定(ding)循環次(ci)數
)
檢驗标(biao)準:導線(xian)功能正(zheng)常被覆(fu)外皮不(bu)破裂。
1.4
表面(mian)裝飾測(ce)試
(DecorativeSurface Test)
測試周(zhou)期:
4
天。
樣品标(biao)準數量(liang):每種顔(ya)色
6
套外殼(ke)。
測(ce)試流程(cheng):
1.4.1.
磨(mo)擦測試(shi)
(Abrasion Test -RCA)
測(ce)試環境(jing):室溫
(20~25
°
C);
測試目(mu)的:印刷(shua)
/
噴(pen)塗抗摩(mo)擦測試(shi)
試(shi)驗方法(fa):将最終(zhong)噴樣品(pin)塗固定(ding)在
RCA
試驗機(ji)上,用
115g
力隊(dui)同一點(dian)進行摩(mo)擦試驗(yan)。每隔
50
次檢(jian)查樣品(pin)的表面(mian)噴塗。對(dui)于表面(mian)摩擦
300cycles
,側棱(leng)摩擦
150 Cycles
。特殊(shu)形狀的(de)手機摩(mo)擦點的(de)确定由(you)測試工(gong)程師和(he)設計工(gong)程師共(gong)同确定(ding)。
檢(jian)驗标準(zhun):耐磨點(dian)塗層不(bu)能脫落(luo),不可露(lu)出底材(cai)質地
(
對于(yu)噴塗、電(dian)鍍、
IMD);
圖案或(huo)字體不(bu)能缺損(sun)、不清晰(xi)
(
對(dui)于絲印(yin)、按鍵
)
。
1.4.2.
附着力(li)測試
(CoatingAdhesion Test)
測試(shi)環境:室(shi)溫
(20~25
°
C);
測(ce)試目的(de):噴塗附(fu)着力測(ce)試
試驗方(fang)法:選最(zui)終噴塗(tu)的手機(ji)外殼表(biao)面,使用(yong)百格刀(dao)刻出
100
個
1
平方(fang)毫米的(de)方格,劃(hua)格的深(shen)度以露(lu)出底材(cai)爲止,再(zai)用
3M610
号膠帶(dai)紙用力(li)粘貼在(zai)方格面(mian),
1
分(fen)鍾後迅(xun)速以
90
度的(de)角度撕(si)脫
3
次,檢查(cha)方格面(mian)油漆是(shi)否有脫(tuo)落。
檢驗标(biao)準:方格(ge)面油漆(qi)脫落應(ying)小于
3%
,并且(qie)沒有滿(man)格脫落(luo)。
1.4.3.
汗(han)液測試(shi)
(PerspirationTest)
測(ce)試環境(jing):
60 oC
,
95%RH
測試(shi)目的:表(biao)面抗汗(han)液腐蝕(shi)能力
試驗(yan)方法:把(ba)濾紙放(fang)于酸性(xing)
(PH=2.6)
溶(rong)液充分(fen)浸透,用(yong)膠帶将(jiang)浸有酸(suan)性溶液(ye)的濾紙(zhi)粘🈲在樣(yang)品噴漆(qi)表面,确(que)保試紙(zhi)與樣品(pin)噴漆表(biao)面充分(fen)接觸,然(ran)後📞放在(zai)測試環(huan)境中,在(zai)
24
小(xiao)時檢查(cha)一次,
48
小時(shi)後,将樣(yang)品從測(ce)試環境(jing)中取出(chu),并且放(fang)置
2
小時後(hou),檢查樣(yang)品表面(mian)噴漆。
檢驗(yan)标準:噴(pen)漆表面(mian)無變色(se)、起皮、脫(tuo)落、褪色(se)等異常(chang)🚶。
1.4.4.
硬(ying)度測試(shi)
(Hardness Test)
測(ce)試環境(jing):室溫
(20~25
°
C);
測試目(mu)的:表面(mian)噴塗硬(ying)度測試(shi)
試(shi)驗方法(fa):用
2H
鉛筆,在(zai)
45
度(du)角下,以(yi)
1Kg
的(de)力度在(zai)樣品表(biao)面從不(bu)同的方(fang)向劃出(chu)
3~5cm
長(zhang)的線條(tiao)
3~5
條(tiao)。
檢(jian)驗标準(zhun):用橡皮(pi)擦去鉛(qian)筆痕迹(ji)後,在油(you)漆表面(mian)應不留(liu)下劃痕(hen)👈。
1.4.5.
鏡(jing)面摩擦(ca)測試
(Lens ScratchTest)
測試(shi)環境
:
室溫(wen)
(20~25
°
C);
測試(shi)目的:鏡(jing)面抗劃(hua)傷測試(shi)
試(shi)驗方法(fa):用
Scratch Tester
将實驗(yan)樣品固(gu)定在實(shi)驗機上(shang),用載重(zhong)
(load)
爲(wei)
500g
的(de)力在樣(yang)品表面(mian)往複劃(hua)傷
50
次。
檢驗标(biao)準:鏡面(mian)表面劃(hua)傷寬度(du)應不大(da)于
100
μ
m(
依(yi)靠目視(shi)分辨、參(can)照缺陷(xian)限度樣(yang)闆
)
1.4.6
紫外線(xian)照射測(ce)試
(UV illuminantTest)
測試環(huan)境:
50
°
C
測(ce)試目的(de):噴塗抗(kang)紫外線(xian)照射測(ce)試
試驗方(fang)法:在溫(wen)度爲
50
°
C
,紫外線(xian)爲
340W/mm2
的光線(xian)下直射(she)油漆表(biao)面
48
小時。試(shi)驗結束(shu)後将手(shou)機外殼(ke)取出,在(zai)常溫下(xia)冷卻📞
2
小時(shi)後檢查(cha)噴漆表(biao)面。
檢驗标(biao)準:油漆(qi)表面應(ying)無褪色(se),變色,紋(wen)路,開裂(lie),剝落等(deng)現象。
1.5.1.
低溫(wen)跌落試(shi)驗
(Low temperatureDrop Test)
測試環(huan)境:
-10
°
C
樣(yang)機數量(liang)
: 3
台(tai)
測(ce)試目的(de):樣機低(di)溫跌落(luo)測試
試驗(yan)方法:将(jiang)手機進(jin)行電性(xing)能參數(shu)測試後(hou)處于開(kai)機🎯狀态(tai)放置🌈在(zai)
-10
°
C
的低(di)溫試驗(yan)箱内
1
小時(shi)後取出(chu),進行
1.2
米的(de)
6
個(ge)面跌落(luo),
2
個(ge)循環,要(yao)求
3
分鍾内(nei)完成跌(die)落,方法(fa)同常溫(wen)跌落。
檢驗(yan)标準:手(shou)機外觀(guan),結構,功(gong)能和電(dian)性能參(can)數符合(he)要求。
1.5.2.
扭曲(qu)測試
(Twist Test)
測試(shi)環境:室(shi)溫
(20~25
°
C);
樣(yang)機數量(liang)
: 2
台(tai)
測(ce)試目的(de):抗扭曲(qu)測試
試驗(yan)方法:将(jiang)手機處(chu)于開機(ji)狀态,固(gu)定在扭(niu)曲試驗(yan)機上🈲,用(yong)
2N m
力(li)矩反複(fu)扭曲手(shou)機
1000
次。對于(yu)滑蓋手(shou)機,應将(jiang)一半樣(yang)品滑開(kai)到上限(xian)位置。
檢驗(yan)标準:手(shou)機沒有(you)變形
,
外觀(guan)無異常(chang),各項功(gong)能正常(chang)。
1.5.3.
坐(zuo)壓測試(shi)
(Squeeze Test)
測(ce)試環境(jing):室溫
(20~25
°
C);
樣機數(shu)量
: 2
台
測試目(mu)的:抗坐(zuo)壓測試(shi)
試(shi)驗方法(fa):将手機(ji)處于開(kai)機狀态(tai),放置在(zai)坐壓試(shi)驗❤️機上(shang),用
45Kg
力反複(fu)擠壓手(shou)機
1000
次。
對于滑(hua)蓋手機(ji),應将一(yi)半樣品(pin)滑開到(dao)上限位(wei)置。
檢驗标(biao)準:手機(ji)沒有變(bian)形
,
外觀無(wu)異常,各(ge)項功能(neng)正常。
1.5.4.
鋼球(qiu)跌落測(ce)試
(Ball Drop Test)
測試環(huan)境:室溫(wen)
(20~25
°
C);100g
鋼球(qiu)。
樣(yang)機數量(liang)
: 2
台(tai)
測(ce)試目的(de):鏡蓋強(qiang)度測試(shi)
試(shi)驗方法(fa):鏡蓋表(biao)面:用
100g
鋼球(qiu),從
20cm
高處,以(yi)初速度(du)爲
0
的狀态(tai),垂直打(da)擊鏡蓋(gai)表面。
檢驗(yan)标準:手(shou)機鏡蓋(gai)無變形(xing),無裂縫(feng),無破損(sun)
(
允(yun)許有白(bai)點
)
,
LCD
功(gong)能正常(chang)。
1.6
其(qi)他條件(jian)測試
樣品(pin)标準數(shu)量:
5
台。
測試周(zhou)期:
1
天。
測試流(liu)程
:
測試标(biao)準:
1.6.1
螺釘的(de)測試
(Screw Test)
測試(shi)環境:室(shi)溫
(20~25
°
C);
樣(yang)機數量(liang)
: 3
台(tai)
測(ce)試目的(de):螺釘拆(chai)裝疲勞(lao)測試
試驗(yan)方法:将(jiang)手機平(ping)放在試(shi)驗台上(shang)用允許(xu)的最大(da)扭矩
(
由設(she)計工程(cheng)師和生(sheng)産工程(cheng)師提供(gong)
),
對(dui)同一螺(luo)釘在同(tong)一位置(zhi)反複旋(xuan)動螺釘(ding)
10
次(ci)
.
檢(jian)驗标準(zhun):試驗中(zhong)和完成(cheng)後
,
螺紋沒(mei)有變形(xing)
,
損(sun)壞
,
滑絲
,
用肉(rou)眼觀察(cha)沒有裂(lie)紋
; INSERT
不能有(you)明顯的(de)松動
,
劃絲(si)
;
螺(luo)釘口
(
包括(kuo)機械和(he)自攻螺(luo)釘
)
不能有(you)明顯的(de)松動
,
劃絲(si)
1.6.2
挂(gua)繩孔強(qiang)度的測(ce)試
(Hand StrapTest)
測試環(huan)境:室溫(wen)
(20~25
°
C);
樣機(ji)數量
: 2
台
測試(shi)目的:挂(gua)繩孔結(jie)構強度(du)測試
試驗(yan)方法:将(jiang)挂繩穿(chuan)過挂繩(sheng)孔并以(yi)
2
圈(quan)
/
秒(miao)的速率(lü)在垂直(zhi)的平面(mian)内轉動(dong)
100
圈(quan)
,
然(ran)後用拉(la)力計以(yi)持續不(bu)斷的力(li)拉手機(ji)的挂繩(sheng)
.
檢(jian)驗标準(zhun):手機的(de)挂繩能(neng)容易的(de)穿過挂(gua)繩孔
(
不借(jie)助于特(te)殊的工(gong)具
);
轉動手(shou)機時
,
挂繩(sheng)
孔(kong)不能被(bei)損壞
;
挂繩(sheng)孔的破(po)壞力不(bu)能小于(yu)
12kgf(111N)
可(ke)靠性是(shi)指産品(pin)在規定(ding)的條件(jian)下、在規(gui)定的時(shi)間内完(wan)成規定(ding)的功能(neng)的能力(li)。産品在(zai)設計、應(ying)用過程(cheng)中,不斷(duan)經受自(zi)身及外(wai)界氣候(hou)環境及(ji)機械環(huan)境的影(ying)響,而🔴仍(reng)需要能(neng)夠正🙇♀️常(chang)工作🎯,這(zhe)就需要(yao)以試驗(yan)設備對(dui)其進行(hang)驗證,這(zhe)個驗證(zheng)基本分(fen)爲研發(fa)試驗、試(shi)🌍産試驗(yan)、量産抽(chou)檢三個(ge)部分。
1
、其中(zhong)氣候環(huan)境包含(han):高溫、低(di)溫、高低(di)溫交變(bian)、高溫高(gao)濕、低溫(wen)低濕、快(kuai)速溫度(du)變化、溫(wen)度沖擊(ji)、高壓蒸(zheng)煮
(HAST)
、溫升測(ce)試、鹽霧(wu)腐蝕
(
中性(xing)鹽霧、銅(tong)加速乙(yi)酸、交變(bian)鹽霧
)
、人工(gong)汗液、氣(qi)體腐蝕(shi)
(SO2/H2S/HO2/CL2)
、耐(nai)焊接熱(re),沾錫性(xing),防塵等(deng)級測試(shi)
(IP1X-6X)
,防(fang)水等級(ji)測試
(IPX1-X8)
、阻燃(ran)測試,
UV
老化(hua)
(
熒(ying)光紫外(wai)燈
)
、太陽輻(fu)射
(
氙燈老(lao)化、鹵素(su)燈
)
等等
;
2
、其中(zhong)機械環(huan)境包含(han):振動
(
随機(ji)振動,正(zheng)弦振動(dong)
)
、機(ji)械沖擊(ji)、機械碰(peng)撞、跌落(luo)、斜面沖(chong)擊,溫濕(shi)度
振動三(san)綜合、高(gao)加速壽(shou)命測試(shi)
(HALT)
、高(gao)加速應(ying)力篩選(xuan)
(HASS
、
HASA)
、插拔(ba)力,保持(chi)力,插拔(ba)壽命,按(an)鍵壽命(ming)測試、搖(yao)擺試驗(yan)、耐👄磨測(ce)試、附着(zhe)力測試(shi)、百格測(ce)試等。
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